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在前一章中，我们一起学习了如何导入数据。在导入数据之后的第一步，便是能量校准。这是不可忽略的一步，它直接关系到后续E®k转换，傅里叶变换等。本次演示的数据都是从本公司RapidXAFS谱仪上采集的。

由于谱仪在数据采集过程中总会出现偏差，所以不同批次采集的样品会有能量偏移，这种问题在同步辐射装置和桌面谱仪上都不可避免，因此需要进行人为校准。首先，我们使用Athena软件中的Calibrate功能对金属单质标样进行能量校准。

如上图所示，吸收谱数据会自动转换为一阶导。此时，我们需要回忆XAFS中吸收边的定义：X射线吸收系数变化最快的位置，因此吸收边对应一阶导中的最高点。在寻找一阶导最高点的时候也需要灵活变通，因为由于样品含量、步长选择等原因，吸收边位置变缓，从而导致一阶导中的强度下降。针对这种情况，需要选择离吸收边理论值较近的峰位。在这组数据中，我们单击Select a point按钮，在右图中双击离8333eV更近的峰值，即8326 eV处的峰。然后点击Calibrate，完成标样的能量校准，如下图所示:

能量校准结束后，Athena的main window中的Energy shift将会由0边为相应的偏移值。一般认为同批次的样品的能量偏移是一致的，所以需要将同批次的样品数据的Energy shift设定为和标样一致的数值。如下图：

如上操作之后，仪器本身的能量偏移误差已经校准了。但这还不够，我们需要进一步利用Calibrate对样品数据进行E0的设定。同标样校准流程一样，单击Select a point按钮，然后在一阶导图中选择最高点进行双击。需要注意：此时已经完成E0的设置，不要点击下方的Calibrate！

自此，数据的校准已经完成。下面，我们列出了能量校准中的几个关键点：

1. 不同批次的样品的Energy shift都要和其同批次测试的标样一致，校准之后不同批次测试的数据也可以放一起比较了；

2. 在样品的Energy shift设定后，一定要进行E0的选择，否则会影响后续的k空间和R空间。