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在XAFS测试中，我们获得的数据不一定是光滑且信噪比好的，总会由于样品研磨不均匀、原位中产生气泡、光源本身的glitch等因素导致数据出现噪点，或者一段数据的不合理，这时就需要采用去除噪点或者数据截断的功能。

（一）数据截断

对于吸收边相近的一些样品，在测试低能吸收边时往往会在边后不远处出现高能吸收边，如FeCo双金属，Ce的L₃/L₂吸收边等。如下图所示，Ce的L2和L3同时出现，就需要把6190eV之后的L2的吸收边数据截断。此时需要用到Deglitch and truncate data模块，使用Truncate功能，在圆圈处点击，在需要截断数据的位置双击，并选择相应的Drop points，点击Truncata data，便可截断数据。

（二）去除单个噪点

去除噪点依然是在Deglitch and truncate data模块。此时可以选择m（E），也可选择X（E），即分别对原始数据和乘以相应权重后的EXAFS区域进行噪点扣除。点击Choose a point按钮，当鼠标旋转时即可在图上双击要去除的噪点，然后点击Remove point。

（三）去除多个噪点

当数据中有一段都不合理，而且处于数据中间位置，无法通过截断数据扣除时，便可以使用Deglitch many points功能。点击Emin右边的圆圈，在原始数据上双击要去除的一段数据的起点，然后点击Emax右边的圆圈，在数据上双击要去除的一段数据的终点，然后调节Margin，使大部分数据点在Margin之外。点击Remove points，则Margin两条线之外的数据都被扣除了。